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[방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]

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작성일 23-03-08 02:44

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이 곡선은 보통 투과무늬에서 타원이나 쌍곡선이고 [그림 3-10(a)] 배면 반사(back-reflection Laue method)에서는 쌍곡선이다[그림3-10(b)].


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Laue 법은 처음으로 사용한 회절법이며 Laue 경의 본래 실험을 재현한다. 이 반점의 배열을 보통 무늬(pattern)라고 한다.방사선 기기학,The method of X-ray scanning,XRD 스캔방법
[방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]



어느 방법이든 회절빔은 그림3-10에 나타낸 것과 같은 반점 배열을 필름에 형성한다.
순서



설명





정대의 면에서 나온 Laue 반사가 원추의 표면 위에 놓인다는 사실을 스테레오 투영으로 잘 나타낼 수 있따 그림 3-12에서 결정은 기준구의 중심에 있고 입사빔 는 왼편으로 들어오고 투과빔 T는 오른편으로 나간다. 이 방법에서는 x선 관에서 나온 연속스펙트럼인 백색 x선을 고정한 단결정에 맞춘다. 그 결과 회절한 각각의 빔은 파장이 다르게 된다. 이 방법에서는 x선 관에서 나온 연속스펙트럼인 백색 x선을 고정한 단결정에 맞춘다. 그림 3-11(a)에서 보듯이 원추의 한 면은 투과빔에 대하여 접하고 정대축(Z.A.)과 투과빔과 만드는 경사각 φ는 원추의 정각(apex angle)의 반과 같다. 따라서 Bragg각인 θ를 결정 내의 모든 조의 면에 대하여 고정하고 각 조의 면은 특정한 d와 θ의 값에 대하여 Bragg 법칙을 만족하는 x선 파장을 선택하여 회절한다. 그러나 사진에 그린 선으로 나타낸 바와 같이 반점은 어떤 곡선 위에 놓인다. 정대면에서 나온 회절 반점은 이 타원에서 배열한다. 그 결과 회절한 각각의 빔은 파장이 다르게 된다


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다. 이 용어는 어떤 특정한 뜻을 포함하고 있는 것은 아니고 반점의 주기적인 배열을 의미하지도 않는다. 그림에서 보듯이 필름은 필름중심을 지나는 가상의 타원으로 원추와 만난다. 따라서 Bragg각인 θ를 결정 내의 모든 조의 면에 대하여 고정하고 각 조의 면은 특정한 d와 θ의 값에 대하여 Bragg 법칙을 만족하는 x선 파장을 선택하여 회절한다. 각 φ가 45°를 넘으면 배면 반사무늬를 기록하기 위해 결정과 x선 원 사이에 놓인 필름은 그림3-11(b)에서 보듯이 원추와 쌍곡선으로 만난다. 이런 일은 한 정대의 면에서 나온 Laue 반사는 모두 그 정대축을 축으로 하는 가상적인 원추의 표면 위에 있다는 사실 때문이다. 정대축을 나타내는 점은 기본원의 원주 위에 있고 이 정대 내에 속하는 다섯 개 면의 극점 에서 는 그림에 나타낸 대원 위에 있따 이 중의 한 면, 예를 들어 가 회절한 빔의 방향은 다음과 같이 찾을 수 있따 ,,(찾으려는 회절 방향)와 T는 모두 같은 평면 위에 있따 그러므로 는 ,,를 지나는 대원 상에 있따 와 사이의 각은 (90°-θ)이고 그림에서 나타낸 바와 같이 는 의 반대편 등각인 점에 있따 이와 같이 찾은 회절빔 에서 는 정대축이 축인 원추와 기준구가 교차하는 하나의 소원 위에 있따


같은 곡선 위에 있는 반점은 같은 정대에 속하는 면에서 나온 반사이다.

Laue 법은 처음으로 사용한 회절법이며 Laue 경의 본래 實驗을 재현한다.
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